iPhone NAND架構無需拆機即可檢測

自iPhone6釋出之後，網上就傳出了各種各樣的硬體問題，其中比較著名的要數彎彎門了，另外在NAND(快閃記憶體)方面，也曝出過不好的新聞。早前更是有訊息指出蘋果計劃召回128GB的新iPhone(雖然後來沒有了下文)。

根據韓國媒體BusinessKorea的報導，蘋果正在考慮將iPhone6和iPhone6Plus的NAND快閃記憶體構架從三階儲存單元(Triple-LevelCell，即TLC)改為多階儲存單元(Multi-LevelCell，即MLC)，其主要原因就是前段時間曝出的NAND快閃記憶體引起的崩潰現象。而主要出現這種問題的裝置主要集中在64GB和128GB的新iPhone上。

那麼如何檢測自己的iPhone快閃記憶體是否使用了TLC的架構呢?鋒友jocover和我們分享了一個檢測的方法，該方法除了可以檢測出快閃記憶體的架構之外，還可以檢測出快閃記憶體的供應商(蘋果在快閃記憶體方面使用了不同的供應商)。